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試驗(yàn)探針的基本要求和保養(yǎng)方法
更新時(shí)間：2019-12-10 點(diǎn)擊次數(shù)：2404
試驗(yàn)探針的生命周期中每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，到模型參數(shù)提取，再到設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試。通過使用試驗(yàn)探針，人們便有可能在晶片層次上測(cè)量射頻組件的真正特性。
試驗(yàn)探針的基本要求和工作原理：
1）試驗(yàn)探針的平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。
2）為了能同時(shí)接觸到信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過程被稱為“探針的平面化”。
3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及校準(zhǔn)方法的開發(fā)。
4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來自探針線和到同軸連接器的過渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。
5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。
試驗(yàn)探針的保養(yǎng)方法：
1、測(cè)試針清潔：保持測(cè)試針在清潔的狀態(tài)下是有效的方法來大地減低失敗率。
2、針頭：再有一些狀況不是只用刷子清潔就可以，因此用其他種類的溶劑或清潔化劑將會(huì)是后的替代方法。建議方法是只要清潔針頭，就從冶具上移除測(cè)試針，捆在一起只用針頭泡在淺淺的清潔劑中大約五分種，用軟毛擦試，移除殘留物，然后曬干它，這樣就可以安裝回去繼續(xù)測(cè)試。
3、防塵套：有不少的治具廠都會(huì)提供防塵套以用來預(yù)防空污物掉落在測(cè)試針頭與針管上，在真空的治具里，灰塵容易掉進(jìn)測(cè)試針。
4、污漬清潔：為了不影響測(cè)試針管和侵害測(cè)試針內(nèi)壁的接觸面，從而導(dǎo)致阻抗的過速上升的情況，不要使用溶劑清潔測(cè)試針或使用溶劑浸泡來進(jìn)行污漬清潔。
5、環(huán)境保養(yǎng)：測(cè)試環(huán)境是引起測(cè)試針臟的主要因素，空氣在傳播中的污染物，像灰塵會(huì)掉落在針頭上引起接觸問題，所以我們要對(duì)測(cè)試針的環(huán)境保養(yǎng)。
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